| 品牌 | ElektroPhysik/德國EPK | 價格區間 | 1萬-2萬 | 
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| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 化工,石油,航空航天,汽車及零部件,綜合 | 
                            
                        
                    
                
                    	德國EPK
德國ElektroPhysik(簡稱EPK)公司是一家專門生產測厚儀的專業公司,自1954年以來一直致力于測厚類產品的開發和研究工作,是世界上生產測厚類產品的公司之一。
半個多世紀以來,EPK公司作為測厚領域的公司,在這個領域取得很高的聲譽,有著不可替代的地位。EPK產品包括:MikroTest麥考特系列機械型涂鍍層測厚儀,MiniTest 70系列口袋式便攜式涂鍍層測厚儀,MiniTest 700系列創新型SIDSP涂鍍層測厚儀,MiniTest 1100-2100-3100-4100系列/MiniTest 7400高精度涂鍍層測厚儀,MiniTest 600系列電子型涂鍍層測厚儀,QUINTSONIC超聲波涂層測厚儀,GALVANOTEST庫侖鍍層測厚儀,MiniTest 7200/7400 FH壁厚測厚儀,MiniTest 400系列超聲波測厚儀,CTM-S連續厚度測量系統,StratoTest 4100路面測厚儀,StratoTest 4100 C爐壁測厚儀,PoroTest 7涂層針孔檢測儀等。
德國EPK涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100技術特征:
| 型號 | 1100 | 2100 | 3100 | 4100 | 
| MINITEST 存儲的數據量 | 
| 應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數) | 1 | 1 | 10 | 99 | 
| 每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計計算,并可設寬容度極限值) |   | 1 |   | 500 | 
| 可用各自的日期和時間標識特性的組數 |   | 1 |   |   | 
| 數據總量 |   | 10000 | 10000 | 10000 | 
| MINITEST統計計算功能 | 
| 讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar |   | √ | √ | √ | 
| 讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |   |   | √ | √ | 
| 組統計值六種x,s,n,max,min,kvar |   |   | √ | √ | 
| 組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |   |   | √ | √ | 
| 存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據 |   |   |   | √ | 
| 分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值 |   |   | √ | √ | 
| 顯示并打印測量值、打印的日期和時間 |   | √ | √ | √ | 
| 其他功能 | 
| 設置極限值 |   |   | √ | √ | 
| 連續測量模式快速測量,通過模擬柱識別Z大Z小值 |   |   | √ | √ | 
| 連續測量模式中測量穩定后顯示讀數 |   |   | √ | √ | 
| 連續測量模式中顯示Z小值 |   |   | √ | √ | 
 德國EPK涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100可選探頭參數:
  所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇Z適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的
形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
  F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
  N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層 
  FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能
 
探頭  | 量程  | 低端 分辨率  | 誤差  | Z小曲率半徑 (凸/凹)  | Z小測量 區域直徑  | Z小基 體厚度  | 探頭尺寸  | 
磁 感 應 法  | F05  | 0-500μm  | 0.1μm  | ±(1%±0.7μm)  | 1/5mm  | 3mm  | 0.2mm  | φ15x62mm  | 
F1.6  | 0-1600μm  | 0.1μm  | ±(1%±1μm)  | 1.5/10mm  | 5mm  | 0.5mm  | φ15x62mm  | 
F1.6/90  | 0-1600μm  | 0.1μm  | ±(1%±1μm)  | 平面/6mm | 5mm  | 0.5mm  | φ8x8x170mm  | 
F2/90  | 0-2000μm  | 0.2μm  | ±(1%±1μm)  | 平面/6mm  | 5mm  | 0.5mm  | φ8x8x170mm  | 
F3  | 0-3000μm  | 0.2μm  | ±(1%±1μm)  | 1.5/10mm  | 5mm  | 0.5mm  | φ15x62mm  | 
F10  | 0-10mm | 5μm  | ±(1%±10μm)  | 5/16mm  | 20mm  | 1mm  | φ25x46mm  | 
F20  | 0-20mm  | 10μm  | ±(1%±10μm)  | 10/30mm  | 40mm  | 2mm  | φ40x66mm  | 
F50  | 0-50mm  | 10μm  | ±(3%±50μm)  | 50/200mm  | 300mm  | 2mm  | φ45x70mm  | 
兩 用  | FN1.6  | 0-1600μm  | 0.1μm  | ±(1%±1μm)  | 1.5/10mm  | 5mm  | F0.5mm/N50μm  | φ15x62mm  | 
FN1.6P  | 0-1600μm  | 0.1μm  | ±(1%±1μm)  | 平面  | 30mm  | F0.5mm/N50μm  | φ21x89mm  | 
FN2  | 0-2000μm  | 0.2μm  | ±(1%±1μm)  | 1.5/10mm  | 5mm  | F0.5mm/N50μm  | φ15x62mm  | 
電 渦 流 法  | N02  | 0-200μm  | 0.1μm  | ±(1%±0.5μm)  | 1/10mm  | 2mm  | 50μm  | φ16x70mm  | 
N.08Cr  | 0-80μm  | 0.1μm  | ±(1%±1μm)  | 2.5mm  | 2mm  | 100μm  | φ15x62mm  | 
N1.6  | 0-1600μm  | 0.1μm  | ±(1%±1μm)  | 1.5/10mm  | 2mm  | 50μm  | φ15x62mm  | 
N1.6/90  | 0-1600μm  | 0.1μm  | ±(1%±1μm)  | 平面/10mm  | 5mm  | 50μm  | φ13x13x170mm  | 
N2  | 0-2000μm  | 0.2μm  | ±(1%±1μm)  | 1.5/10mm  | 5mm  | 50μm  | φ15x62mm  | 
N2/90  | 0-2000μm  | 0.2μm  | ±(1%±1μm)  | 平面/10mm  | 5mm  | 50μm  | φ13x13x170mm  | 
N10  | 0-10mm  | 10μm  | ±(1%±25μm)  | 25/100mm  | 50mm  | 50μm  | φ60x50mm  | 
N20  | 0-20mm  | 10μm  | ±(1%±50μm)  | 25/100mm  | 70mm  | 50μm  | φ65x75mm  | 
N100  | 0-100mm  | 100μm  | ±(1%±0.3mm)  | 100mm/平面  | 200mm  | 50μm  | φ126x155mm  | 
CN02  | 10-200μm  | 0.2μm  | ±(1%±1μm)  | 平面  | 7mm  | 無限制  | φ17x80mm  | 
     F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內測量。
  N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。
  CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
德國EPK涂鍍層測厚儀MiniTest 1100/2100/3100/4100探頭
  | FN1.6 0~1600μm,φ5mm 兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(O.1μm) | 
  | FN1.6P 0~1600μm,φ30mm 兩用測頭, 特別適合測粉末狀的覆層厚度 | 
  | FN2 0~2000μm,φ5mm 兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層 | 
  | F05 0~500μm,φ3mm 磁性測頭,適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等 量程低端分辨宰很高(O.1μm) | 
  | F1.6 0~1600μm,φ5mm 磁性測頭 量程低端分辨率很高(O.1μm) | 
  | F3 0~3000μm,φ5mm 磁性測頭 可用于較厚的覆層 | 
   | F1.6/90 0~1600μm,φ5mm 90度磁性測頭 尤其適合于在管內壁測量 量程低端分辨率很高(O.1μm) | 
   | F2/90 0~2000μm,φ5mm 90度磁性測頭 尤其適合于在管內壁測量 | 
   | F10 0~10mm,φ20mm 適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層, 如玻璃、塑膠、混凝土等 | 
   | F20 0~20mm,φ40mm 適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層, 如玻璃、塑膠、混凝土等 | 
   | F50 0~50mm,φ300mm 適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層 | 
   | N02 0~200μm,φ2mm 非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(O.1μm) | 
   | N0.8Cr 0~80μm,φ2mm 適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層 | 
   | N1.6 0~1600μm,φ2mm 非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(O.1μm) | 
   | N2 0~2000μm,φ5mm 非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層 | 
   | N1.6/90 0~1600μm,φ5mm 磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層 尤其適合在管內壁測量 量程低端分辨率很高(O.1μm) | 
   | N2/90 0~2000μm,φ5mm 磁性測頭, 尤其適合在管內壁測量 | 
   | N10 0~10mm,φ50mm 非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等 | 
   | N20 0~20mm,φ70mm 非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等 | 
   | N100 0~100mm,200mm 非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等 | 
   | CN02 10~200μm,φ7mm 用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板 |